日前，我校計(jì)量技術(shù)工程學(xué)院李東升教授的研究生丁雪應(yīng)邀參加了在英國(guó)哈德斯菲爾德舉行的11th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces國(guó)際會(huì)議，會(huì)議期間丁雪作了題為Development of Leaf Surface Topography Precision Sensors的報(bào)告，該報(bào)告為國(guó)家自然基金資助項(xiàng)目“作物葉片周期性增厚機(jī)理及水分優(yōu)化控制的研究”的主要研究?jī)?nèi)容之一，報(bào)告引起了與會(huì)專家學(xué)者的廣泛關(guān)注。 　　International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces是由Tom R Thomas和Ken Stout發(fā)起的國(guó)際性學(xué)術(shù)會(huì)議，每?jī)赡昱e辦一次。第11屆國(guó)際會(huì)議在哈德斯菲爾德大學(xué)舉行，來自英國(guó)、德國(guó)、法國(guó)、中國(guó)、波蘭等十余個(gè)國(guó)家的近百位專家學(xué)者參加了此次會(huì)議，包括Professor David J. Whitehouse，Professor Tom R Thomas和Professor Liam Blunt等國(guó)際知名學(xué)者。該會(huì)議在國(guó)際計(jì)量領(lǐng)域具有深遠(yuǎn)影響，會(huì)議論文將被SCI源期刊Journal of Physics收錄。 　　這是我校研究生首次登上國(guó)際學(xué)術(shù)交流舞臺(tái)，對(duì)提高我校知名度及學(xué)術(shù)交流的促進(jìn)具有積極的影響。